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CCD测量系统倍频插值细分技术

作者:徐秀芳ccd倍频系统测量电子测量系统软硬件高分辨率测量精度基本原理

摘要:在CCD的电子测量系统中,需要解决的是系统的测量精度和提高分辨率的问题,文中论述解决该问题的新方法-倍频插值细分技术.详细介绍该方法的基本原理及软硬件实现,并用系统测量结果证明方法的可实现性.

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电子测量技术

《电子测量技术》(CN:11-2175/TN)是一本有较高学术价值的大型半月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。

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