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测量I-V特性分析阻变存储器的导电机制

作者:谢伟电致阻变导电机制

摘要:介绍了阻变存储器及其I-V特性的测试分析方法。通过测量三明治结构的阻变存储器的I-V特性,采用多种拟合方法,与导电机制原理对比,可以判断器件的导电机制,便于深入分析阻变机理。

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大学物理实验

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