作者：罗来龙x射线衍射死时间积分强度
摘要：用X射线衍射仪做定量分析衍射实验时会因盖革记数器的死时间而出现漏计现象．为了简便地测定死时间，本文提出了单层膜两次照射技术，导出了校正积分强度的近似公式，并与逐次校正法作了对比分析。
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《大学物理》（CN：11-1910/O4）是一本有较高学术价值的大型月刊，自创刊以来，选题新奇而不失报道广度，服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。
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