基于内部故障引弧试验的综合配电箱结构优化

作者：曾作钦; 郑立新; 陈金汕; 魏运明故障电弧综合配电箱引弧试验结构优化焦耳积分

摘要：为了减小综合配电箱内部故障电弧带来的危害，引入了一种基于内部故障引弧试验的方法，设计了恰当的试验系统，并进行了严格的现场试验和数据分析。结果表明，综合配电箱的故障电弧薄弱点主要集中在主母排末端附近，配电回路断路器出线端及补偿回路进线端次之。在此基础上，提出了一些简单实用的结构优化方案，为企业生产安全可靠的综合配电箱提供一定的技术指导。

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