作者：胡倾宇; 路荣涛; 郭玉良; 周玉祥; Salama...涂层导体显微结构制备临界电流密度蒸法直流四引线法超导薄膜fwhm物理测试x射线衍射
摘要：用真空三源热共蒸发法制备了二十厘米长的涂层导体，其宽度为1厘米，超导层宽度为0．9厘米，厚度为600纳米．使用直流四引线法测试，导体在77K时的临界电流大于120安培，相应的临界电流密度大于每平方厘米220万安培．表征电流一电压曲线超导转变陡峭度的n值为35．显微结构观察表明其膜层显微形貌与单晶衬底上的薄膜极其相似．X射线衍射研究表明超导薄膜的相成分纯，面内FWHM为△ψ=6．23°，面外FWHM为△ω=3．84°，表明涂层的优良织构．在此文章将详细报告导体的制备和显微结构及物理测试结果．
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