作者：张勤地球化学填图配套分析方案质量监控系统
摘要：文章介绍了多目标地球化学填图对所选用的分析方法的方法检出限、准确度和精密度的要求和样品分析质量监控系统,提出了以等离子体质谱仪(ICP-MS)、等离子体光学发射光谱仪(ICP-OES)和X射线荧光光谱仪(XRF)等大型分析仪器为主体建立的分析多目标地球化学填图样品中54种指标的配套分析方案,并已应用于大规模土壤样品的分析测试,提供了巨量的基础数据,取得了良好的应用效果.
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《第四纪研究》（双月刊）创刊于1958年，由中国科学院主管，中国第四纪研究委员会;中国科学院地质与地球物理研究所主办，CN刊号为：11-2708/P，自创刊以来，颇受业界和广大读者的关注和好评。 《第四纪研究》主要报道：有关第四纪研究方面的地层、沉积、古地理、古环境、古气候、古动植物、海洋与湖泊、新构造、水文地质与工程地层、国土整治以及第四纪新理论与新技术等内容。读者对象：可供国内外第四纪科技工作者，从事第四纪研究的科研人员和高校师生。
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