作者:朱文灏; 陈雷; 郭其一隔离开关可靠性结构改进快速闭合引弧
摘要:分析了传统低压终端隔离开关的结构特点、存在的可靠性问题,并针对此提出了一种改进的结构。改进方案简化了产品电路机构,解决了触头运动不平衡问题,改进了触头烧损问题。并采用快速闭合机构和引弧角,大大减少了电弧产生,显著减小了隔离开关的熔焊问题,从而提高了隔离开关的可靠性和使用寿命。
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《电气工程学报》(CN:10-1289/TM)是一本有较高学术价值的大型季刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。
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