TMS570的ECC逻辑自诊断机制与实现方法

作者：刘骋程; 宗凯mcutms570ecc自诊断安全关键系统

摘要：对TMS570的RAMECC校验逻辑、FlashECC校验逻辑、FMCECC校验逻辑和FEEECC校验逻辑设计了自诊断流程并给出了详细实现方法，通过操作芯片内部寄存器来故意制造ECC错误进行逻辑自诊断。在多种型号芯片上进行了在线测试与观察，证明检测成功，能够有效地提高程序、数据的正确性和完整性，确保产品的安全性。

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