Wei-Levoy纹理合成算法测试系统的设计与实现

作者：刘景纹理合成算法测试系统输入参数马尔可夫随机场设计mrf优点描述典型

摘要：Wei-Levoy算法是一种典型的基于样图的纹理合成算法,此算法建立在马尔可夫随机场(MRF)模型之上,具有合成质量较高、合成速度较快、能处理的纹理范围较宽等优点.描述了Wei-Levoy算法测试系统的设计和实现过程,并给出了不同输入参数下利用该系统进行纹理合成的结果比较.

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