作者：朱桂茹; 王同华; 张守海; 蹇锡高; 蔡天锡聚醚砜酮薄膜炭化结构xpsxrdftir气体膜分离膜材料
摘要：由XPS谱图分析出PPESK除了H以外的主要组成元素为C、N、O和S．且随着炭化温度的升高，N、O和S元素的质量分数减少，而C的质量分数增加；d002值由室温的0．458 10mm降至950℃的0．350 37nm，接近于石墨的标准层间距(0．335 40nm)，表明PPESK易于石墨化．根据FTIR谱带的变化规律．提出了样品在炭化时会沿着二氮杂萘环的N—N键断裂，形成共轭腈基及异氰基的苯环化合物．异氰基化合物进一步二聚成二苯基碳化二亚胺．后者又聚合生成含氮杂环的多环芳烃．继续炭化会导致芳杂环的合并和HCN等气态小分子的脱除，生成连续巨大的含氮杂芳环多环化合物．
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