作者：陈文涛; 周利兵; 吴天博; 张俊; 王建; 李...探地雷达干式电抗器发热缺陷
摘要：66kV低压并联电抗器为空心电抗器,周围存在360度强磁场,由于施工原因造成低抗基础以及接地连接部件发热,严重影响基础寿命,不利于低抗安全稳定运行。本文提出一种基于探地雷达的成像检测技术,将隐蔽性缺陷部位的实际情况以图像形式直观反映出来,实现对目标体的精准定位,使检测人员能够在不依赖设计图纸的情况下,对缺陷原因进行分析。该项检测技术应用到新疆某750kV变电站低抗发热缺陷分析中,为缺陷消除提供了有力依据,取得了良好效果。
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