作者：王海宁; 梁建刚; 王积勤; 张晨新immicroscoperf
摘要：在微波与射频无源互调的研究中,预测无源互调产物的电平是非常重要的,因为这样可以直观的看出无源互调噪声对于器件或者系统的影响。在众多的预测方法中,IM Microscope 方法具有很多优点。文中在IM Microscope 方法的基础上进行了改进,在预测过程中直接引入输入信号经过非线性器件后输出信号的幅度和相位变化模型,给出了详细的数学模型,这样可以大大减少很多的测量工作。
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