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气相二氧化硅凝胶态下的板栅腐蚀研究

作者:孙小祥; 赵剑曦气相二氧化硅胶体电解质板栅腐蚀

摘要:采用Tafel极化法、循环伏安法和恒电压腐蚀法分别考查了气相二氧化硅(F-SiO2)凝胶态下的负极板栅(Pb-Ca合金)和正极板栅(Pb-Ca-Sn-Al合金)腐蚀,结果表明:当F-SiO2含量超过5%,负极板栅腐蚀电流开始急剧增大,缓蚀率显著减小;F-SiO2含量约为6%时,正极板栅腐蚀速率最小。综合两方面的结果可见,胶体电解质中F-SiO2展示了浓度极点(转折)效应,数值在5%~6%(质量分数)。该研究结果对开发F-SiO2作为胶凝剂以及胶体电解质配方的设计具有重要意义。

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电源技术

《电源技术》(CN:12-1126/TM)是一本有较高学术价值的大型月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《电源技术》主要服务对象是从事化学与物理电源研究、研制、生产的科技工作者,科技管理工作者,有关专业的高等院校师生及部分用户,与电源相关行业的研究、研制、生产者。

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