作者：宋美周 高斐 刘生忠 李宁 张君善热氧化cu片cuo纳米线cu20o
摘要：通过在空气中热氧化Cu片制备CuO纳米线，研究了不同氧化温度对CuO纳米线形貌的影响。利用X射线衍射仪（XRD）、扫描电子显微镜（SEM）分析不同温度下CuO纳米线的结构、形貌，结果表明氧化温度对CuO纳米线的直径和长度有较大的影响，在600℃的条件下获得的CuO纳米线直径为140nm、长度为4μm，600℃为CuO纳米线的最佳的生长温度。用扫描电子显微镜（SEM）和能量色散X射线光谱仪（EDX）分析样品的横截面，得到氧化产物呈层状分布，分别为CuO纳米线、CuO层、Cu2O层。
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