作者:黄振明偶阶微分系统次谱瑞利商原理定量估计上界不等式
摘要:运用施图姆-刘维尔谱理论,对偶阶含权微分系统的低阶离散谱进行定量估计,首先,利用瑞利商原理得到一基本不等式,其次估计了若干积分式的上界或下界,为提高估计的精度,引入了一正参数δ,最后获得了用主谱的二次多项式来估计次谱的上界不等式,其结果是相关文献结论的进一步拓展。
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