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原位反应合成法制备AgSnO2Bi2O3电接触材料及其性能研究

作者:吴新合; 杨辉; 祁更新; 张玲洁; 沈涛; 穆...电接触材料agsno2bi2o3原位反应合成法电阻率

摘要:以熔炼-雾化法合成AgSnBi合金粉体为原料,采用原位反应合成法制取AgSnO2Bi2O3中间体粉体;采用粉末冶金技术制备了AgSnO2Bi2O3电接触材料,重点探究了成型压力、烧结温度等对其物理性能及断口微观组织的影响规律。采用扫描电子显微镜(SEM)、X-ray衍射分析仪(XRD)、电导率仪、维氏硬度计等对AgSnO2Bi2O3电接触材料的微观形貌、物相组成及物理性能进行相应的表征。研究结果表明:熔炼-雾化法制得的AgSnBi合金粉体形貌上呈球状及棒状颗粒,平均颗粒尺寸为10〜20 μm。AgSnBi合金粉体氧化前的物相主要由Sn,Ag4Sn、Ag3Sn及Bi相构成;随着氧化温度的升高,AgSnBi合金粉体的氧化增重量先快速增加而后趋于稳定,并于800℃、2h条件下实现完全氧化。由物理性能关系曲线分析得出在成型压力1200MPa、烧结温度920℃、颗粒粒径400目条件下,AgSnO2Bi2O3电接触材料的电阻率、硬度及密度达到最佳值,分别为2.32μΩ·cm、78.2HV0.5与9.352g/cm^3。微结构分析得出AgSnO2Bi2O3电接触材料自然断口表面不存在明显的韧窝带,其断裂类型判定为脆性断裂。

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电工材料

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