作者：熊杰; 韩玲; 高伟; 朱丹基因表达脆性组胺酸三联体fhit基因电离辐射上皮细胞株直接测序法pcr产物pcr技术动态变化损伤过程病毒转染sv40照射剂量表达情况不同程度不同剂量缺失突变对照组24h72h转录本b细胞
摘要：目的:研究人脆性组胺酸三联体(fragile histidine triad,FHIT)基因在电离辐射损伤过程中的动态变化.方法:以SV40病毒转染的永生化人支气管上皮细胞株BEAS-2B细胞为照射对象,分为0.5、1、2、4、8、16 Gy 60Co γ射线照射剂量组和未照射对照组,分别于照射后24 h、72 h和10 d,采用单细胞RT-PCR技术以及PCR产物直接测序法检测FHIT基因的表达情况.结果:对照组各时间点均未检出异常FHIT转录本,不同剂量照射组照射后各时间点均不同程度检出异常缺失FHIT转录本,照射后24 h各组突变百分比分别为52.6%、66.7%、57.9%、76.5%、64.7%和81.3%,照射后72 h各组突变百分比分别为17.6%、22.2%、50.0%、47.4%、47.1%和68.4%,照射后10 d各组突变百分比分别为21.1%、25.0%、60.0%、57.9%、61.1%和68.4%;突变体经测序证实为外显子缺失性突变.结论:电离辐射可引起FHIT基因的缺失突变.
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