作者：韩家萍; 王珊; 陈飞; 牛建新树上干杏低温胁迫电导法抗寒性
摘要：对树上千杏品种休眠离体一年生枝条进行-20℃、-25℃、-30℃、-35℃的低温胁迫处理，为验证其准确性将各处理的枝条进行水培，观察记录发芽或开花的枝条数量和使用电导法测定出电解质渗出率。结果表明：不同温度下，电解质的渗出率不同，在-25— -35℃之间，电解质渗出率随温度下降而增高。当低于-30℃时，电解质渗出率明显增加，发芽率也严重下降。综合试验结果表明其临界温度约在-25— -30℃之间。
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