作者：时晶晶; 姚佰栋; 吴先良电离层效应星载合成孔径雷达相位屏最小熵
摘要：分析了电离层闪烁效应对低频段星载合成孔径雷达（Synthetic Aperture Radar,SAR）方位向分辨率的影响,并基于相位屏方法进行了仿真研究.结果表明,随着电离层闪烁强度的增强,方位向分辨率逐渐降低,当处于强闪烁条件下时,方位向分辨率严重降低,甚至无法成像.利用最小熵方法对加入电离层闪烁效应误差的一副相控阵L波段合成孔径雷达（Phased Array L-Band Synthetic Aperture Radar,PALSAR）图像进行了校正,仿真试验结果表明,最小熵方法可有效校正电离层闪烁效应造成的方位向分辨率恶化的影响,校正后图像方位向分辨率得到了很好的恢复,接近原始无误差图像方位向分辨率,图像质量明显提高.
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