作者：杜广煜; 谭祯; 蔺增; 巴德纯阻尼特性zro2涂层微观结构动态力学分析仪电子束物理气相沉积
摘要：通过电子束物理气相沉积的方法在TC4基体上制备ZrO2涂层,探究其对基底阻尼作用的影响机理.通过SEM和XRD对涂层的表面形貌和结构特性进行表征,并利用动态力学分析仪(DMA)检测涂层的阻尼性能.结果表明:随着基体温度的升高,晶粒尺寸变大,微缺陷减小,薄层损耗因子产生混合取向,损耗因子增加,阻尼性能提高.在高频下,由于补偿效果,涂层中混晶取向的晶界缺陷消失,阻碍了涂层阻尼性能进一步提高.基底温度为400℃,激振频率为55Hz时阻尼性能最好.
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