作者：宋依青; 严佳倩单粒子瞬态脉冲逻辑掩蔽软错误率单粒子加固
摘要：逻辑电路中NMOS管或者PMOS管受到高能粒子撞击,会产生单粒子瞬态脉冲错误。针对这种现象,提出一种识别和选择电路中敏感结点的新方法,并与门的逻辑掩蔽效应加权综合考虑,对所选择的结点通过增大恢复管的尺寸来加固,以减小单粒子效应导致的软错误率。
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《常州工学院学报》（双月刊）创刊于1986年，由江苏省教育厅主管，常州工学院主办，CN刊号为：32-1598/T，自创刊以来，颇受业界和广大读者的关注和好评。 《常州工学院学报》主要刊登机械工程、电气工程、电子科学与技术、信息与通信工程、计算机科学与技术、土木工程、建筑学等自然科学类学术论文。
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