作者：李桐; 张林睿; 杨炎翰; 张永哲; 宋雪梅; ...铜锌锡硫吸收层银掺杂光电化学测试
摘要：采用电化学共沉积与磁控溅射法制备出不同Ag原子比的银铜锌锡硫（ACZTS）吸收层。利用X射线衍射（XRD），拉曼光谱，扫描电镜（SEM），X射线能谱仪（EDS）及电化学测试等分析技术对制得薄膜的成分、结构、形貌及性能进行分析和研究。结果表明：制备的ACZTS吸收层具有贫铜富锌的特点，Ag的掺入对薄膜的形貌有很大的影响，Ag原子比的增加可以明显促进晶粒长大，使薄膜表面更加致密；此外，Ag掺杂后薄膜表面具有n型与p型半导体特性；当Ag原子比为22%时，薄膜对入射光的吸收明显增强，瞬态光电流密度最大，当Ag原子比为28%时，薄膜稳态光电流密度提升最为明显。
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