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微电子器件的可靠性优化研究

作者:武艳青电子信息技术电子产品微电子可靠性

摘要:随着电子技术的不断发展,在微电子技术的支持下,微电子 产品受到消费者的广泛喜爱,电子设备在体积上逐渐缩小,对电子设备 的可靠性产生了一些影响,以静电放电为例,微电子设备容易受静电故 障。因此,我国对微电子设备的可靠性表现出很高的兴趣,但与国际技 术水平相比存在一些差异,这是我国微电子技术努力和发展的方向。本 文对微电子器件可靠性优化进行了研究。

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产城

《产城》(月刊)创刊于2014年,由成都市工业经济发展研究中心主管,成都市工业经济发展研究中心主办,CN刊号为:51-1756/F,自创刊以来,颇受业界和广大读者的关注和好评。 《产城》杂志以“立足西部为重点的全国工业化、城镇化探索与实践,介绍前 沿理论、分析发展趋势、推广先进经验,打造业界、政界、学界共同关注与交流互动的思想平台,推动产城融合、产城一体发展进程”为办刊宗旨,“以产经视野探寻城市价值”为传播主张。

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