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高过载存储测试中抗过载技术的研究

作者:文丰 乔建忠 李艳高过载存储测试抗高过载侵彻ansys仿真

摘要:介绍了高过载存储测试的系统组成和设计原理。对记录器抗高过载能力进行理论分析和试验证明,从电路和结构设计方面考虑提高抗高过载能力。应用ANSYS软件对结构进行仿真,并采用缓冲和灌封技术相结合的方案,使得防护效果更佳。经过试验证明:这种方案具有很高的可靠性。

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传感器与微系统

《传感器与微系统》(CN:23-1537/TN)是一本有较高学术价值的大型月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《传感器与微系统》编辑部始终坚持质量第一,注重社会效益,发表具有前瞻仰性、先进性、导向性的论文及最新科技、市场信息,为企事业和高校提供先进的科技成果与工艺技术,为提高传感器与微系统技术的学术水平,促进国内外学术交流,加速传感器与微系统技术及其产业的发展而努力工作。

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