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MEMS近红外光谱仪微镜驱动控制系统研发

作者:顾小杰; 王杰扰动观测器模型预测控制mems微镜近红外

摘要:针对微机电系统(MEMS)近红外光谱仪中MEMS微镜驱动系统的耦合与复杂扰动问题,提出了一种基于扰动观测器(DOB)与模型预测控制(MPC)的复合控制结构。通过分析MEMS微镜的驱动工作原理,建立MEMS微镜偏转角与驱动电压的传递函数模型,设计了MPC以消除系统耦合,通过分析系统扰动模型,设计了DOB实现对系统内部与外部扰动的集中监测。仿真研究与实验测试结果表明:基于DOB-MPC复合结构的MEMS微镜驱动控制系统,既可以有效抑制系统的外部扰动,又可以抑制由模型失配和变量耦合导致的内部扰动。

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测控技术

《测控技术》(月刊)创刊于1982年,由中国航空工业集团有限公司主管,中国航空工业集团北京长城航空测控技术研究所主办,CN刊号为:11-1764/TB,自创刊以来,颇受业界和广大读者的关注和好评。 《测控技术》以其刊出论文的技术先进、方法新颖、实用性强为特色,重点介绍各种类型传感器、智能化仪器仪表、现场总线技术、计算机数据采集与处理、集散式控制系统、分布式控制系统、模块化技术、各种网络技术、楼宇自动化技术、多媒体在工业自动化领域的应用、人工智能技术、模糊控制技术、通信技术、仿真与虚拟现实、机电一体化以及工控组...

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