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TDK推出0~320V可编程电源用于高分辨率电子成像系统

电子成像系统可编程电源高分辨率tdk扫描电子显微镜聚焦离子束荧光显微镜蛋白质标记

摘要:TDK推出0~320V可编程电源用于高分辨率电子成像系统。束流较低的聚焦离子束(FIB)成像系统已被证明是一项比传统扫描电子显微镜更好的技术。没有化学蚀刻以及荧光探针的信号变化,在蛋白质标记中其结果可与通过荧光显微镜获得的图像相关联。

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测控技术

《测控技术》(月刊)创刊于1982年,由中国航空工业集团有限公司主管,中国航空工业集团北京长城航空测控技术研究所主办,CN刊号为:11-1764/TB,自创刊以来,颇受业界和广大读者的关注和好评。 《测控技术》以其刊出论文的技术先进、方法新颖、实用性强为特色,重点介绍各种类型传感器、智能化仪器仪表、现场总线技术、计算机数据采集与处理、集散式控制系统、分布式控制系统、模块化技术、各种网络技术、楼宇自动化技术、多媒体在工业自动化领域的应用、人工智能技术、模糊控制技术、通信技术、仿真与虚拟现实、机电一体化以及工控组...

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