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射频平面阵列目标位置控制系统的研究

作者:张丙伟; 吴惠明; 江志平射频仿真平面阵列目标位置效能评估试验

摘要:阵列式射频仿真技术开始用于论证大型设备在复杂电磁环境下的效能评估试验,常规单一试验中心的球面阵列已难以适应此类试验,迫切需要构造一种新型阵列系统来完成新的试验,为此提出采用射频平面阵列式目标位置控制方案。设计并制作了平面阵列结构,论述了目标位置控制系统的阵列馈电方案以及软件模块,重点阐述了精位控制算法和粗位控制原理。提出四元组合成方案实现精位控制,并推导了四元组合成位置的角闪烁方程。最后在微波暗室内测试了典型频段下该系统的辐射信号合成角位置精度,结果表明该阵列系统在X波段的角位置模拟精度可达1 mrad,能够用于大型设备的效能评估试验。

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测控技术

《测控技术》(月刊)创刊于1982年,由中国航空工业集团有限公司主管,中国航空工业集团北京长城航空测控技术研究所主办,CN刊号为:11-1764/TB,自创刊以来,颇受业界和广大读者的关注和好评。 《测控技术》以其刊出论文的技术先进、方法新颖、实用性强为特色,重点介绍各种类型传感器、智能化仪器仪表、现场总线技术、计算机数据采集与处理、集散式控制系统、分布式控制系统、模块化技术、各种网络技术、楼宇自动化技术、多媒体在工业自动化领域的应用、人工智能技术、模糊控制技术、通信技术、仿真与虚拟现实、机电一体化以及工控组...

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