作者：孔晶晶; 王默力短暂性脑缺血发作氢质子磁共振波谱代谢改变发作间期神经功能缺失症状计算机断层成像术单光子发射
摘要：传统的短暂性脑缺血发作（TIA）的概念是指大脑局灶性或区域性缺血产生的神经功能缺失症状．并在24h内完全消失。TIA的新定义．即南于局部脑或视网膜缺血所引起的短暂性的神经功能缺损发作，典型的临床症状持续不超过1h．且无脑梗死的证据。王默力等应用单光子发射电子计算机断层成像术（SPECT）、电子发射体层扫描（PET）等检查手段，初步提出TIA间期仍存在脑血流低灌注状态．间期亦可见脑功能局部减低区。随着功能核磁的发展．氢质子磁共振波谱（^1H-MRS）成为可以无创地活体分析组织代谢和俸化改变的有效于段。应用卒中的研究可以定量地反映脑组织神经细胞内的生化代谢改变，并可作为评价卒中预后的指标之一，国内外关于TIA间期^1H-MRS的脑代谢研究均处于初级阶段，我们就此方面的研究进展综述如下。
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