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受激发射损耗显微超分辨成像技术在免疫突触中的研究进展

作者:高辛未; 张硕晨; 黄珊; 朱书缘; 冯继宏自然杀伤细胞免疫突触受激发射损耗显微镜荧光探针生物芯片

摘要:由于光学衍射的限制,传统光学显微镜只能看到免疫突触(immunological synapse,IS)(>200nm)的轮廓,因此在观察嵌合抗原受体(chimeric antigen receptor,CAR)修饰的自然杀伤(native killer,NK)细胞靶向杀伤肿瘤细胞时,NK细胞的IS形成过程中会丢掉很多信息。受激发射损耗(stimulated emission depletion,STED)显微镜的出现为IS的研究提供了有力工具。本文概述了STED超分辨成像技术的基本原理,分析了成像过程中的技术难点,介绍了在IS领域中与STED成像技术结合使用的荧光探针、生物芯片的研究新进展,探讨并展望了STED超分辨显微技术在IS研究领域的意义和未来发展方向。

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北京生物医学工程

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