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三种粘接剂对IPS e.max CAD全瓷冠微渗漏和适合性的影响

作者:王天; 李桂红树脂粘接剂微渗漏适合性cerecacipscad

摘要:目的比较Duo-Link、Variolink N和Kerr NX3三种树脂粘接剂粘接对离体牙IPS e.max CAD全瓷冠微渗漏和适合性的影响。方法收集40个离体上前磨牙,随机分为4组,常规制作IPS e.max CAD全瓷冠,分别用Duo-Link、Duo-Link+酸蚀、Variolink N以及Kerr NX3进行粘接。经冷热循环后,应用扫描电镜观察微渗漏和适合性情况,并进行统计学分析。结果 4组IPS e.max CAD全瓷冠的边缘微渗漏不同,Duo-Link组值最大,Kerr NX3值最小,Duo-Link组的边缘适合性差于其他3组,Kerr NX3的牙合面适合性优于其他3组。以上差异均有统计学意义(P〈0.05)。结论三种树脂粘接剂粘接CEREC AC系统的IPS e.max CAD全瓷冠,对其边缘微渗漏和内部适合性均有影响。全酸蚀、湿粘接树脂粘接剂能有效减少边缘微渗漏,获得良好的边缘和内部适合性。IPS e.max CAD全瓷冠加工精准度高,可以获得良好的边缘和内部适合性。

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