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基于FPGA的数控测试系统设计

作者:王杰; 李杰数控测试系统超高速集成电路硬件描述语言编码器

摘要:基于超高速集成电路硬件描述语言(VHDL)的数控测试系统,含控制信号、接收数据、数据处理及发送数据模块。根据不同控制信号,数据处理模块得到分频数据、主轴编码器输出个数和主轴编码器线数。由数据SPDL_SD产生主轴脉冲分频脉冲,再由分频脉冲DIV控制产生SPDL_NUM/4个正交的A、B脉冲,同时根据数据SPDL_XS产生Z脉冲。通过外部的输出电路,把产生的主轴A、B、Z脉冲发送到被测的数控系统。

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兵工自动化

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