作者：王涛; 蔡金燕; 张民国; 孟亚峰; 朱赛电子细胞胚胎仿生总线整数非线性规划自修复可靠性硬件消耗遗传算法
摘要：在规模一定的总线胚胎电子系统中,电子细胞数目将直接影响电子系统的硬件消耗与可靠性.针对电子细胞数目选择缺乏定量分析方法的现状,提出了一种基于整数非线性规划的电子系统内电子细胞数目优选方法.基于 n/k 系统可靠性理论,建立了电子系统的可靠性分析模型.以系统消耗的MOS场效应管数目为衡量指标,建立了电子系统的硬件消耗分析模型.通过分析系统可靠性和硬件消耗,将电子系统内电子细胞数目优选问题转化为求解整数非线性规划问题,并基于遗传算法实现了胚胎电子系统细胞数目的优选.仿真实验及分析结果表明,该方法能够较好地解决系统中电子细胞数目优选问题.
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