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n型4H—SiC上Ni/Pt和Ti/Pt欧姆接触

作者:秦龙 刘英坤 杨勇 邓建国欧姆接触nipt和tipt碳空位比接触电阻

摘要:研究了Ni/Pt和Ti/Pt金属在n型4H—SiC上的欧姆接触。在1020oC退火后,Ni/Pt与n型4H—SiC欧姆接触的比接触电阻为2.2×10^-6Ω·cm2。Ti/Pt与n型4H—SiC欧姆接触的比接触电阻为5.4×10^-6Ω·cm2,退火温度为1050℃。虽然Ni的功函数比Ti的功函数高,但是Ni比Ti更容易与n型4H—SiC形成欧姆接触。使用能谱分析仪(EDX)分析了Ni/Pt和Ti/Pt金属与4H—SiC接触面的元素,观察到C原子相对于Pt原子的原子数分数随退火温度的变化而不同。实验验证了在n型4H—SiC中退火导致的碳空位起施主作用是有利于欧姆接触形成的主要原因。

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半导体技术

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