HI,欢迎来到学术之家,发表咨询:400-888-7501  订阅咨询:400-888-7502  股权代码  102064
0

单片集成TFT-LCD驱动芯片的设计验证策略

作者:程鹏 魏廷存 魏晓敏 李博薄膜晶体管液晶显示器驱动芯片混合信号仿真全芯片验证

摘要:混合信号VLSI芯片的单片特性验证是此类芯片的设计难题之一。针对典型的混合信号VLSI芯片——单片集成薄膜晶体管液晶显示器(TFT-LCD)驱动芯片,设计了一种能够直观模拟液晶显示的系统级验证平台,并利用此验证平台验证了系统架构的正确性。还针对此芯片的设计特点,结合系统验证平台为整个设计流程的各个阶段提出了不同的验证策略。通过对这些策略的配合使用,对芯片特性进行了全面验证,包括模块级验证、芯片级验证以及物理验证。该验证策略具有高效、直观、可靠等特点。

注:因版权方要求,不能公开全文,如需全文,请咨询杂志社

半导体技术

《半导体技术》(CN:13-1109/TN)是一本有较高学术价值的大型月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《半导体技术》以严谨风格,权威著述,在业内深孚众望,享誉中外,对我国半导体事业的发展发挥了积极作用。“向读者提供更好资讯,为客户开拓更大市场”。荣获中国科技论文统计用刊,美国ProQuest数据库收录期刊。

杂志详情