作者：宋一平静电耦合间接放电直接放电抗静电能力计算器评估接触放电集成电路静电产生设计人员研发周期存储器
摘要：静电可能使计算器的存储器单元内容改变或丢失,严重的使计算器的集成电路损坏,无法正常工作.通过分析静电产生的原因,用间接放电、接触放电两种方法,评估计算器的抗静电能力,找出防静电的薄弱环节,帮助设计人员有针对性的改善产品,缩短研发周期.
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《安全与电磁兼容》（CN：11-3452/TM）是一本有较高学术价值的大型双月刊，自创刊以来，选题新奇而不失报道广度，服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《安全与电磁兼容》是中国唯一介绍电子产品安全与电磁兼容有关内容的专业期刊,是集权威性、学术性、实用性和知识性于一体的技术性刊物。
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