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X射线荧光光谱微区分析在元素赋存状态研究中的应用

作者:刘玉纯; 梁述廷; 刘瑱; 林庆文元素赋存状态x射线荧光光谱微区分析

摘要:结合光学显微镜等其他方法,利用X射线荧光光谱仪微区分析功能,对锰矿石中的Mn元素,辉钼矿中的Mo、S、Re等元素,含黄铁矿包裹体的闪锌矿中的S、Fe、Zn等元素进行微区原位定性或定量分析,研究确定元素在地质体中不同的赋存部位或赋存状态。本法只要将矿石矿物标本制成光片,即可进行微区原位分析,为元素赋存状态研究工作提供一种新的技术手段,同时能够补充和验证其他研究方法。

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安徽化工

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