HI,欢迎来到学术之家,发表咨询:400-888-7501  订阅咨询:400-888-7502  股权代码  102064
0

半导体功率器件的加速寿命试验研究

作者:冒媛媛; 徐进; 郎秀兰半导体功率器件加速寿命平均失效时间

摘要:长寿命、高可靠的半导体功率器件难以采用正常应力下的长期寿命试验进行寿命评估。从阿伦尼乌斯方程出发,研究了半导体功率器件加速寿命试验的基本原理和试验方法,并采用155℃高温应力加速研究某型脉冲功率管在85℃条件下的基本失效率。试验结果与可靠性指标预计相吻合,该型功率管随后在某大型有源相控阵雷达上进行了大批量应用,实际可靠性指标进一步验证了所设计的加速寿命试验的有效性。

注:因版权方要求,不能公开全文,如需全文,请咨询杂志社

质量与可靠性

《质量与可靠性》(CN:11-2715/V)是一本有较高学术价值的大型双月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《质量与可靠性》是质量与可靠性技术综合性期刊,立足航天科技工业,面向整个国防科技工业,并为广大民用工业服务。

杂志详情