作者：王维; 钟博扬; 叶小球; 李芳芳; 陈长安; ...漏率校准定容法氦质谱检漏仪气体介质压强
摘要：真空标准漏孔作为标定检漏仪或被测量漏率的参考标准,在核工业、航天航空等领域得到了广泛应用。本文利用氦质谱检漏仪和定容法对标准漏孔（铭牌漏率：2.3×10^-6Pa·m3/s,He,23℃）进行校准,以为快速地定量研究聚变材料中氘（D2）或氦（He）行为提供有用的参考。研究结果表明,漏孔漏率随入口端气体压强的增大而增大,并与漏孔两端气体介质压强的平方差呈线性递增关系。同一入口压强下,D2的漏率高于He,且漏率之间的差异随压强增加而变大。同一条件下,定容法和氦质谱检漏仪测得漏孔中示漏气体He的漏率值基本相等,但示漏气体为D2时,氦质谱检漏仪测得的漏率值高于定容法。研究还给出了氦质谱检漏仪测量示漏气体D2时漏孔漏率的修正关系式。
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