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ICP-AES法测定钼及钼钇合金中硅的质量分数

作者:张良玉; 张俊峰; 郝红梅钼钇合金硅元素测定固定寻峰模式

摘要:文中测定方法用电感耦合等离子体发射光谱(ICP-AES)法,采用固定寻峰模式,测定了钼及钼钇合金中微量硅元素的质量分数,对被测元素的分析谱线,仪器主要参数,酸度的影响进行了试验,确定了最佳工作条件。

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中国高新技术企业

《中国高新技术企业》是一本有较高学术价值的旬刊,自创刊以来,读者遍布全国主要科研机构、政府、高等院校、高新园区、高新企业、公共场所及其他企事业单位。选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度,颇受业界和广大读者的关注和好评。 《中国高新技术企业》现已更名为《中国高新科技》。

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