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基于时间特性的周期BIT数据分析模型研究

作者:周晓龙; 张辉周期bit故障隔离时间序列故障模糊组

摘要:机内自检(BIT)是系统故障检测的重要手段,在电子系统中被广泛应用。随着系统越来越大,BIT数据越来越多。快速、准确的从BIT记录中获取有效的故障信息,并进行初步的故障隔离,对于大型电子系统事后检测分析具有重要的意义。本文主要研究了周期BIT数据分析方法,提出了利用周期BIT数据的时间标签特性,进行聚类分析,实现故障事件的初步融合,从而为进一步的故障推理提供了唯一性故障数据;论文还讨论了该方法在故障隔离方面的应用情况。

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中国电子科学研究院学报

《中国电子科学研究院学报》(CN:11-5401/TN)是一本有较高学术价值的大型月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《中国电子科学研究院学报》主要发表电子信息系统研发和综合集成领域内的技术和学术研究论文。聘请行业内工程院院士等资深专家以及近年来在此领域内卓有成就的中年专家组成编委会。办刊宗旨:注重研究成果,提高理论水平。

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