作者：庞宁 黄华 吴来明 陈建民 齐春藏展材料评估筛选纳米薄膜试片k均值聚类算法图像检测
摘要：采用纳米薄膜试片代替块状金属试片,可以有效的解决藏展材料评估筛选中的测试周期长,误差大的问题,对薄膜试片进行数据化分析则可以避免人为主观判断的影响。本工作首先对圆形的薄膜试片进行检测,然后采用基于K均值聚类的图像分割算法对试片图像进行分割,得到试片被腐蚀的面积比例,同时与人工观察的试片腐蚀程度进行比较判断。结果显示,本方法可以有效的对薄膜试片的腐蚀程度进行数据化评判,从而能够较为客观准确的对材料进行评估筛选。
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