作者：谭雪; 金兰mcu芯片j750测试机晶圆tds软件功能测试频率计数
摘要：Teradyne J750测试系统功能强大、测试精度高,是全球装机量最大的自动测试设备。以一款MCU芯片的晶圆级测试为例,主要阐述了其在美国Teradyne公司生产的J750大规模集成电路测试系统上的测试方案开发与实现。介绍了J750测试系统的主要特点,开展晶圆级测试开发的一般步骤：包括测试设备评估、测试适配器加工、离线程序编写、在线测试程序调试等。程序部分主要关注功能项和频率计数测试,对调试异常情况进行研究等。通过开展16site并完成整枚晶圆的测试,根据探针台生成的Map文件,可以查看到该圆片的批号、片号、测试坐标及对应管芯的测试结果表征值,即Bin值。
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