作者：王文海stm32微控制器过采样技术
摘要：本文通过对该微控制器数字转换器（ADC）的精度的基本原理进行研究,并对STM32微控制器内核进行可行性分析,同时通过研究数据来对过采样技术能否通过STM32微控制器技术实验,从而得出,过采样技术的使用能够有效地减少STM32微控制器中处理器的负担,大大提高其自带模拟数字转换器的精度。
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