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介观LC电路中电容、电感和外源流突变所产生的量子压缩

作者:吴卫锋 范洪义量子光学介观lc电路量子压缩

摘要:通过采用有序算符内的积分技术(IWOP技术),对介观LC电路量子化方案所得到的哈密顿量进行了分析,探讨了该方案下LC电路电容、电感、外源流在突变时所产生的量子压缩效应。结果标明:电容突变反映在正交组q呈现压缩效应;电感突变反映在另一正交相p呈现压缩效应;而外源流的非线性突变反映出来的是数-相压缩。

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量子电子学报

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