作者：高晓明 谈图 Hiroyuki Sasada光谱学分子谱线参数吸收多光束干涉
摘要：介绍了一种利用F-P腔透射峰宽度测量分子谱线参数的新方法，论文从多光束干涉叠加原理出发，推导出有样品气体吸收的F-P腔的透过率函数，F-P腔的透过率是样品气体吸收线型的函数，随着样品吸收的增加，F-P腔透射条纹宽度增加。实验测量得到的谱线强度与HITRAN2004数据库数据、谱线宽度与理论计算结果很好地一致。
注：因版权方要求，不能公开全文，如需全文，请咨询杂志社
《量子电子学报》（CN：34-1163/TN）是一本有较高学术价值的大型双月刊，自创刊以来，选题新奇而不失报道广度，服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《量子电子学报》致力于报导量子电子学领域中的最新的重要实验和理论研究成果，优秀的教学研究和专题综述，适合于高等院校主修上述专业的师生以及相关研究所和公司的科研工作者、工程师阅读。
省级期刊
人气 35469 评论 63
统计源期刊
人气 34760 评论 57
北大期刊
人气 24315 评论 46
北大期刊、CSCD期刊、统计源期刊
人气 23849 评论 51
