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一种新型可容忍单节点翻转锁存器加固设计第171-172页
关键词: 锁存器  摩尔定律  软错误率  单节点  集成电路  翻转  加固设计  单粒子效应  
2020年第01期 《电子世界》
一种选择单粒子瞬态脉冲敏感结点的方法第37-41页
关键词: 单粒子瞬态脉冲  逻辑掩蔽  软错误率  单粒子加固  
2018年第02期 《常州工学院学报》
航空电子设备大气辐射环境的危害影响分析第109-112页
关键词: 航空电子设备  大气辐射  中子  中子诱发的单粒子效应  软错误率  
2019年第09期 《装备环境工程》
增强组合电路脉冲窄化效应的软错误率优化布局方法第1158-1165页
关键词: 软错误率  电荷共享效应  脉冲窄化效应  单粒子瞬态  详细布局方法  软错误率评估  
瑞萨科技新型superSRAM第33-33页
关键词: 瑞萨科技公司  supersram  高软错误容错性  制造工艺  软错误率  电容器技术  
2004年第09B期 《电子产品世界》
基于地面加速测试的大气中子软错误率评估方法研究第60-64页
关键词: 地面宇宙射线  大气层中子  单粒子效应  软错误率  加速测试  
基于向量传播的单粒子瞬态模拟方法研究第268-273页
关键词: 可靠性  软错误率  单粒子瞬态  重汇聚  
2017年第02期 《微电子学》
基于四值脉冲参数模型的单粒子瞬态传播机理与软错误率分析方法第2113-2121页
关键词: 超大规模集成电路  软错误率  单粒子瞬态  四值脉冲参数  故障传播概率  
2016年第08期 《电子与信息学报》
一种基于混合模拟的计算组合电路中软错误率的方法与工具第153-157页
关键词: 软错误率  混合模拟  重汇聚  
65nm工艺SRAM低能质子单粒子翻转实验研究第2364-2369页
关键词: 质子  单粒子翻转  直接电离  随机静态存储器  软错误率  
2014年第12期 《原子能科学技术》
新型微电子技术单粒子效应研究面临的挑战第538-542页
关键词: 单粒子瞬态  软错误率  单粒子功能中断  
2010年第07期 《核技术》
组合逻辑电路的软错误率自动分析平台第1661-1666页
关键词: 软错误率  组合逻辑电路  时序逻辑电路  语法分析  高可靠  
一种快速精确查找逻辑电路失效位置的方法第353-357页
关键词: 单粒子瞬态  软错误率  位翻转概率  错误传播概率  组合逻辑  
2008年第03期 《微电子学》
组合逻辑电路中软错误率的频域分析方法第535-544页
关键词: 软错误率  电气屏蔽特性  窗闩屏蔽特性  逻辑屏蔽特性  重汇聚  
一种针对软错误的流水线电路加固方案第240-244页
关键词: 软错误  软错误率  锁存器  触发器  电路加固  
栅氧退化效应下纳米级SRAM单元临界电荷分析第20-24页
关键词: 栅氧退化  软错误  sram单元  临界电荷  软错误率  
SER-Tvpack:基于软错误率评估的SRAM型FPGA的装箱算法第1764-1772页
关键词: sram型fpga  软错误率  可靠性  装箱  单粒子翻转  
考虑NBTI效应的组合电路软错误率计算方法第1562-1569页
关键词: 负偏置温度不稳定性  扇出重汇聚  单粒子瞬态  软错误率  
典型卫星轨道辐射环境及在轨软错误率预计模型分析第207-213页
关键词: 空间辐射环境  软错误率  单粒子效应  
2015年第09期 《强激光与粒子束》
基于故障概率的组合电路软错误率分析第343-351页
关键词: 组合电路  扇出重汇聚  故障概率