负偏置温度不稳定性论文

考虑NBTI空穴俘获释放机制的组合逻辑门延迟预测第1264-1272页

关键词: 老化负偏置温度不稳定性门延迟模型关键路径

2014年第10期

一款消除浮空点并自锁存的老化预测传感器第216-222页

关键词: 传感器老化预测自锁存浮空点逻辑电路负偏置温度不稳定性

2019年第03期《半导体技术》

一种降低电路泄漏功耗的多阈值电压方法第839-845页

关键词: 负偏置温度不稳定性泄漏功耗多阈值电压

2018年第06期《微电子学》

电平转换电路的NBTI老化分析与容忍设计第353-358页

关键词: 负偏置温度不稳定性电平转换电路老化容忍

2018年第03期《微电子学》

多约束下寻找关键门的门替换技术缓解电路的NBTI效应第113-116页

关键词: 负偏置温度不稳定性电路老化关键门时延约束影响因数门替换

2018年第22期《现代电子技术》

考虑路径相关性的TG-based缓解电路老化第187-192页

关键词: 负偏置温度不稳定性传输门关键门路径相关性

2018年第04期《电子测量与仪器学报》

一种抗老化消除浮空点并自锁存的老化预测传感器第944-950页

关键词: 负偏置温度不稳定性传感器老化浮空点集成电路

2017年第12期《半导体技术》

基于故障插入的电路抗老化输入矢量生成研究第723-728页

关键词: 老化自动测试向量生成固定故障负偏置温度不稳定性输入矢量控制

2017年第05期《微电子学》

基于关键路径与改进遗传算法的最佳占空比求解第124-128页

关键词: 集成电路老化效应最佳占空比负偏置温度不稳定性多输入向量控制遗传算法

2017年第10期《传感器与微系统》

采用双阈值配置的抗老化N型多米诺或门第499-504页

关键词: 负偏置温度不稳定性多米诺或门抗老化双阈值配置时序余量

2017年第04期《微电子学》

考虑输入占空比和随机性的M-IVC缓解电路老化第968-976页

关键词: 负偏置温度不稳定性多输入向量控制输入波形最优占空比随机性

2017年第05期《计算机辅助设计与图形学学报》

一种容软错误的可编程老化预测传感器第1-4页

关键词: 负偏置温度不稳定性老化软错误

2017年第04期《仪表技术与传感器》

应用基于双权值的门替换方法缓解电路老化第171-180页

关键词: 负偏置温度不稳定性电路时序违规双权值关键门非门替换

2017年第02期《应用科学学报》

电路抗老化设计中基于门优先的关键门定位方法第258-263页

关键词: 负偏置温度不稳定性关键门抗老化静态时序分析

2017年第02期《微电子学》

协同输入向量控制与门替换技术缓解电路NBTI老化第1796-1802页

关键词: 负偏置温度不稳定性输入向量控制最优输入控制向量门替换协同

2016年第10期《计算机辅助设计与图形学学报》

工艺偏差下PMOS器件的负偏置温度不稳定效应分布特性第261-267页

关键词: p型金属氧化层半导体负偏置温度不稳定性工艺偏差阈值电压

2016年第16期《物理学报》

缓解电路NBTI效应的改进门替换技术第1029-1036页

关键词: 负偏置温度不稳定性时序违规时延关键性关键门门替换

2016年第07期《电子测量与仪器学报》

NBTI效应导致SET脉冲在产生与传播过程中的展宽第996-1001页

关键词: 脉冲展宽解析模型

2011年第05期《电子学报》

考虑工作负载影响的电路老化预测方法第2242-2249页

关键词: 负偏置温度不稳定性电路老化占空比非线性优化

2010年第12期《计算机辅助设计与图形学学报》

一种可编程的老化感知触发器设计第238-241页

关键词: 负偏置温度不稳定性电路老化触发器可编程延迟单元

2016年第02期《佳木斯大学学报》