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基于二阶自相关过程残差控制图的改进

作者:魏兴龙; 宋向东残差平均运行链长自相关漂移mecmce统计过程控制

摘要:本文将以AR(2)过程为例,将CUSUM和EWMA控制图的统计量相整合,提出改进MEC和MCE两种控制图,以平均运行链长(ARL)和额外平方损失(EQL)做为评价效率的重要指标。通过仿真分析去验证,新的控制图对于自相关模型发生均值漂移具有较好的检测效率.

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价值工程

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