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硅片缺陷检测中的图像分割方法

作者:李桥; 钟宝江太阳能硅片亮度校正局部灰度特征自适应阈值

摘要:在利用机器视觉系统检测太阳能硅片外观缺陷的过程中,分割阈值的选择一直是一个较大的挑战。针对此问题提出了一种基于局部灰度特征的自适应阈值选择方法。首先,对初始图像进行亮度校正和调整,解决外部光源造成的亮度分布不均问题;其次,在不同时间和不同区域采集图像块,分析它们的灰度差异,以此估算环境光线的动态变化;最后,在人工设定目标阈值的基础上,分割阈值作限定性的动态调整。实验结果表明,该方法不仅具有对环境光线鲁棒性的优点,而且可以避免现存的算法缺乏目标性的缺点,因此具有较好的可行性。

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计算机应用

《计算机应用》(CN:51-1307/TP)是一本有较高学术价值的大型月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。

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