作者：刘红亮; 陈冷微观结构磁学性能
摘要：用原子力显微镜（AFM）和X射线衍射（XRD）研究了不同厚度Cu/Co双层膜的表面形貌和微观结构,并用振动样品磁强计（VSM）测量了磁滞回线。实验结果表明,薄膜表面由均匀岛状结构组成,随着Co薄膜厚度增加,“小岛”高度升高,之后部分“小岛”发生合并长大。当Co薄膜厚度为5和15nm时,Co为fcc结构;当Co薄膜厚度为30nm时,fcc结构和hcp结构同时存在。此外,随着Co薄膜厚度增加,对应磁滞回线矩形度逐渐变大,并且矫顽力和饱和磁化强度逐渐增大。
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